虚边精确测量

采用多光场成像技术，清晰呈现虚边、搭接漏箔等信息，保证准确抓边，实现稳定测量。

暗痕稳定检测

多光场成像，清晰呈现浅缺陷；传统算法+AI识别算法，过滤材料颜色波动，实现稳定检测暗痕等浅缺陷，避免误报。

准确标记，避免浪费

自主F.Brain Al训练平台，保证分类准确性达到99%以上，避免由于错分类错贴标导致材料浪费。

多产线检测能力一致，保证良品

通过统一装调标准、检测参数、分类模型，实现所有设备检测能力与结果一致。有效防止检测能力不一致造成的漏检。