
FPGA+ARM+GPU相结合,实用行频提升2倍,提速不降检测能力,实现30um针孔100%检出,满足隔膜极致安全要求。

高速频闪光源,亮度差提升4倍,稳定检出>10DN的缺陷,提升一倍检测能力;单卷超10万+缺陷不卡顿。

依托LusterLVM视觉大模型,实现隔膜缺陷精细分类,支持30+类缺陷分类,平均分类准确率大于99%。

自动判定成品卷等级,无需人工介入,准确率>99.9%;缺陷数据自动分析和统计,实现质量追溯和工艺改善。
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