对焦精度高达±0.5μm（10x物镜），在检测被测目标时快速响应，一致性Kappa>0.9
切片式浅景深显微成像技术精确识别缺陷物理层次，检出率高达99.2%
高性能的FPGA和MCU芯片，具备自主专利算法，对不同结构特征的被测物可自主调节对焦范围，实现最优对焦成像效果，支持VR屏检
集成GMQM智能质量管理平台，大数据采集实时上传检测结果、缺陷类型和区域，集中式样本管理，自动生成工艺优化建议与良率分析报告，从被动应对向主动控损转变
FilmHERO光学膜检测系统适用于光学基膜、涂布膜、复合膜卷料全场景，通过可配置视觉系统与AI算法，解决凹凸缺陷检出、划伤缺陷检出、纹路缺陷检出等行业痛点。
可以有效检测TFT LCD，硬性OLED，柔性OLED等产品的外观缺陷，可有效检测划伤、凹点、凸点、印痕、脏污等面类缺陷以及端子部划伤、边缘欠损、裂纹等边缘类缺陷
SuperTrain模组点灯全自动检测设备可以有效检测直边、弧形边等产品的模组点灯缺陷，设备采用凌云光人工智能技术，可区分灰尘和真实脏污缺陷干扰，抑制过检，可有效检测亮异物点、暗点、中心色斑、局部彩斑等缺陷。
集成 AOI、ET、Auto label，OQA等功能整体解决方案。设备包含上料、主检、电测站点、品质抽检等单元。核心单元可对全亮、全黑、灰阶、奇偶棋盘格、10% Peek窗口、低电流等画面中的各种点、线、 Mura（色斑）、颗粒不亮、颗粒弱亮、爆亮、棋盘格显示异常等进行检测。
可以有效检测直边、弧形边等产品的CELL点灯缺陷，设备采用凌云光人工智能技术，可区分灰尘和真实脏污缺陷干扰，抑制过检。可有效检测亮异物点、暗点、中心色斑、局部彩斑等缺陷。
Super Train TMC 6000 Mini LED 背光点灯检测设备是集成 AOI、ET、Auto label，OQA等功能整体解决方案。设备包含上料、主检、电测站点、品质抽检等单元。核心单元可对全亮、全黑、灰阶、奇偶棋盘格、10% Peek窗口、低电流等画面中的各种点、线、 Mura（色斑）、颗粒不亮、颗粒弱亮、爆亮、棋盘格显示异常等进行检测。
针对CG Lami真空贴合后模组产品，3D贴合后产品背面直边、R角、孔边缘、正面曲边crack检查，可有效检测划伤、彩虹纹、R角裂纹、FPC裂纹、边裂纹等缺陷
