在半导体封装领域，引脚（PIN）虽小，却承载着芯片与外界通信的全部命脉。它们是决定产品性能与可靠性的关键触点。随着封装密度不断提升，引脚间距已缩小至0.2mm，精度要求达到±5μm。传统的人工目检和常规视觉检测方法在精度、效率和稳定性上已逐渐无法满足现代产线的需求。

01. 色差干扰

当PIN引脚翘曲缺陷在图像中所占的像素区域极为微小时，传统相机因采用插值算法进行色彩重构，往往导致缺陷部分的颜色信息被错误识别，进而影响检测的精度与可靠性。

02. 检测效率不足

现代产线生产节拍快，人工检测速度慢且一致性难以保证，成为产能提升的瓶颈。

03. 精度极限

0.2mm的间距，±5μm的公差，细微的弯曲、偏移或尺寸偏差，都可能导致连接失效。传统人工目检或常规相机方案，在面对高反光金属、微小缺损时，极易产生误判或漏检，成为质量防线的“盲区”。

PIN引脚检测需求

检测项目	检测参数
工件面积	13.09x8.83x5.88mm (长x宽x高)
检测部位	底部正光检测外观/顶部正光检测外观
检测效率	每分钟检测200-250数量根据样件送料速度

针对以上痛点，JAI 推出APEX系列棱镜分光相机解决方案。

01. 真实色彩还原

采用独特的三棱镜分光技术，将同光轴光线精准分解为RGB三通道独立成像，尤其在运动平台速度不稳定及检测物体表面不平整的应用中，避免传统拜耳相机产生的色彩串扰和摩尔纹。

这意味着，无论是PIN引脚的细微色泽、塑封体的纹理，还是焊锡的光泽，都能被真实、一致地捕捉，为后续测量提供稳定图像输入。

02. 高分辨率细节呈现

320万像素分辨率，配合优质光学镜头，清晰呈现引脚轮廓（脚趾、脚跟、脚侧），支持±5μm级别的高精度尺寸与位置测量。

03. 速度匹配产线节奏

最高106fps帧率适用于高速运动场景，可无拖影捕捉图像，满足高节拍需求。

04.工业级可靠性

坚固设计，支持标准协议，易于集成到现有自动化产线，与PLC、机械臂及MES系统协同工作。

在半导体封装持续向高密度、高精度发展的趋势下，稳定可靠的视觉检测系统已成为保障良率与效率的重要环节。JAI APEX系列相机通过精准的色彩分离与高分辨率成像，为引脚检测提供了从源头上可信任的图像基础，帮助企业在提升检测精度的同时，兼顾产线效率与系统稳定性。