光谱鉴定的必备工具
可连续调谐激光器是研发实验室与生产车间必不可少的设备。它适用于需要快速、连续地调谐波长的各种应用。 
T200S激光器能够以高功率和高速度进行扫描，并在固定波长上提供低线宽。

测试高速光子集成电路（PIC）

集成的光子器件可包括光谱对比度高的复杂光器件。例如，环形谐振腔可能具有非常尖锐的谐振曲线，使得难以鉴定插损。除了插损之外，还需要以相同的精准度测量某些器件的回损或偏振相关损耗。最后，还需要同时测试许多器件或单个器件的输出，以加快鉴定PIC的速度。
为了测试这类器件，可以将T200S激光器与EXFO的器件测试平台CTP10结合起来使用。CTP10能够以高分辨率和高精度进行光谱测量，是一款集成的解决方案，它可以充分利用T200S的性能，以200 nm/s的速度进行扫描。T200S还兼容CT440，后者是一款紧凑的EXFO器件测试仪，速度可达100 nm/s。 
光器件测试
T200S采用多项可调谐激光器创新技术，如超低的信源自发辐射比（SSSER）、高功率腔体和无跳模操作。无论是以特定的固定波长还是通过扫频进行高质量的光器件测试时，这三个参数都非常重要。

在实验室或生产车间，可以使用大触摸屏轻松操作该测试仪表，触摸屏配备符合人体工程学的图形用户界面（GUI）；还可以通过设备背面的以太网端口使用SCPI命令实现全自动操作。

科技研发

在研发环境中，可连续调谐激光器通常用于扫频应用，但也可能需要将其调谐到具有窄线宽的特定稳定波长上。 

T200S有一个专用的调谐模式，可优化线宽，同时保持高功率稳定性。 

出类拔萃的功能
输出功率可达10 dBm，光谱纯度高
T200S可在整个调谐范围内，以10 dBm的标称光输出功率工作时，显示出非常清晰的光谱。事实上，光腔在不影响光功率的前提下消除了宽带源自发辐射（SSE），且可以设置到最佳线宽（< 50 kHz）。
得益于主动的跳模控制，在激光器的整个扫描过程中可保持很高的光谱纯度，确保能够反复实现可靠的扫频测量。 
调谐速度快 

可以选择将T200S的扫描速度配置为200 nm/s。在速度非常关键
时，T200S可确保测量可重复且迅速。也可以将激光器的扫描速度设置到较低水平（例如在使用传统的检测系统时）。
支持波长调谐或连续扫频
T200S有两种用户模式：调谐（TUNE）或扫频（SWEEP）。每种模式都针对特定用途进行了优化。调谐模式可以优化激光器控制，以确保在任何波长上都具备窄线宽，或随时能够进行快速、精准的波长调谐。扫描模式可在激光器的选定波长范围内进行高速的无跳模扫描。
自动化程度高，可进行非常精准的光谱测量
T200S是光谱鉴定系统的主要组成部分，该系统使用EXFO器件测试设备（CTP10或CT440），因此光谱测量波长精准度可达±5 pm，且波长可重复性极佳。这些器件测试设备可实现新激光源的自动化操作，对现有自动化操作程序的影响比较有限。作为一个独立的激光器，可以通过以太网控制，从任何位置远程操作。
紧凑易用
T200S支持半机架配置，只需占用很小的空间，从而非常适用于实验室应用。可以调整屏幕以适应黑暗的光学实验室环境，显示相关信息，您即便在光学工作台的另一侧也能看清。
还提供机架安装配件，在19英寸机架工作台内安装一台或两台激光器。控制按钮位于屏幕的任何一角，因此不需要看屏幕也可以操作激光器。