专为VIS+NIR检测而生
分辨率覆盖2048~4096
29kHz@4K分辨率,53KHz@2K分辨率
高行频,高可靠,高性价比
支持GigE Vision和GenICam标准协议
支持帧外触发和平场矫正功能,覆盖表检标准应用场景
| 产品型号 | SF1100-GE04K-29M-03 |
| 芯片类型 | CMOS |
| 数据接口 | GigE |
| 分辨率 | 4096 x 4 |
| 彩色/黑白 | Mono |
| 帧率 | 29KHz |
| 芯片类别 | CMOS TDI line scan |
| 像元尺寸 | 7 x 7μm |
| 数据位深 | 8bit/10bit/12bit |
| 触发类型 | 行触发/帧触发/行+帧触发 |
| 动态范围 | 61.5dB |
| 信噪比 | 40dB |
| 特色功能 | NIR增强、4线2光场成像 |
| 增益范围 | x1~x4 |
| 曝光时间范围 | 2μs~4.997ms |
| 图像格式 | Mono 8,Mono 10 Packed,Mono 12 Packed |
| 操作系统支持 | Windows XP/7/10 32/64bits |
| 协议支持 | GenIcam、Gev 2.0 |
| 供电 | <6W@12VDC,电压范围12~24V |
| 数据接口 | 千兆网口 |
| 镜头接口 | M42 |
| 外壳尺寸 | 62 x 62 x 32.4mm |
| 重量 | 280g |
| 工作温度 | 0°C~50 °C |