在光伏行业的硅片检测环节，我们为客户提供优质的可配置视觉系统方案与视觉组件。检测硅片在生产、运输过程中产生的隐裂、缺角、崩边、米缺等缺陷，从源头上对坏片进行筛选剔除，避免了后续加工工艺流程的浪费，提高电池片的成品率，节约大量成本。根据客户检验精度的不同，为客户提供了2K、4K等不同检测精度，例如我们的反射式组件，可将硅片的隐裂缺陷放大，完美的满足了客户高精度的检验需求。根据客户检测视场的不同，每个组件的工作距离均设置为可调式。根据客户现场皮带分隔与否情况，我们设计有透射式与反射式两种打光方式。根据客户现场机台安装情况，我们设计有单臂式，双臂式，悬臂式三种安装方式。 我们的标准化产品已覆盖客户多种现场需求，对客户提出的各检测要求均有适配的产品或成熟的检测方案。
方案优势
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高精度
反射式打光方式有别于透射式打光方式，可以将硅片隐裂缺陷放大，成像效果更明显，实现硅片隐裂缺陷的高精度检测。
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高可靠
LED方案的光源出光宽度是激光出光宽度的2-3倍，所以简单操作即可将检测图像调整到最佳。
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高亮度
激光方案为高亮度激光器，经过柱透镜光筒进行光路整形，最终得到高亮度、高均匀性性的光束，使硅片实现更优的成像效果。
