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  2016年7月24-26日,凌云应中国光学工程学会邀请,作为联办单位参与 "第四届前沿光学成像技术与应用学术研讨会",针对前沿光学成像的技术及应用,凌云公司总工程师张勇老师在此次研讨会上详细介绍了凌云自主产品EMVA1288光电传感测试平台。
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 产品概述

  采用欧洲EMVA1288标准,研制CCD/CMOS成像器件全阐述测试设备,具备各类光电参数测试能力(含QE参数、MTF、blomming、optical crosstalk等特殊芯片参数等),长期为客户提供芯片/相机的光电性能测试标准服务于定制化服务,同时自主研发了紧凑型与定制型两类自动测试系统供客户选择。

  已为国内多家单位提供芯片老炼实验前后、辐照实验前后的光电测试,以及常规的光电测试。

 EMVA1288标准理论模型

 
 

 

   
 测试参数
实际测试结果
项目
结果
单位
总增益 (K)
0.0955
DN/e-
3.348 DN
随机噪声
35.06
e-

饱和输出

(μe.sat)

最大 4080.47 DN
42.74 ke-
线性
3955.11
DN
41.43
ke-

动态范围

(dR)

最大 1218.90 X (倍数)
61.72
dB
线性 1181.45
X (倍数)
61.45
dB
最大信噪比
203.05 X (倍数)
46.15 dB
DSNU
0.47
DN
4.90 e-
暗电流
201541
e-/s
线性度
0.243025883
%(±)
PRNU 1288 1.30 %
量子效率 QE
86.38%
%

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